正電子壽命譜儀 (PSA)的原理分析

發(fā)布日期：2022-11-30      瀏覽次數(shù)：1023

正電子壽命譜儀 (PSA)的原理分析



產(chǎn)品概要

• 這是一種可以使用正電子評估亞納米尺寸（原子級）的微小缺陷和空隙的方法。

• 正電子壽命測量是一種能夠使用正電子評估亞納米尺寸（原子級）微缺陷和空隙的技術(shù)。

本裝置應(yīng)用實例

•  噴丸質(zhì)量檢查

• 金屬疲勞損傷評估

適用于

•  鋼、鋁、鈦等各種金屬

•  非晶態(tài)材料，例如玻璃和聚合物

•  測量深度距表面約50μm（鋼材）

*與產(chǎn)業(yè)技術(shù)綜合研究所共同開發(fā)

正電子壽命法原理



• 圖1是正電子進入金屬材料并湮滅的示意圖。
  正電子壽命測定法是準確測定正電子產(chǎn)生時放出的γ射線與電子對湮滅時產(chǎn)生的γ射線的時間差（正電子壽命）的技術(shù)。材料中空位越多，位錯密度越高，正電子壽命越長。

• ■所謂陽電子

• 帶正電荷的電子“反粒子"。與電子相遇就會對消失γ放出線。

• ■所謂正電子壽命

• 是指正電子與電子相遇并消失之前的時間（壽命）。正電子壽命取決于電子密度，空隙尺寸越大，電子密度越低，所以正電子壽命會更長。

常用規(guī)格

正電子源	Na-22 (~1MBq)
計數(shù)率	約 100 厘泊
測量范圍	40 ns（對于金屬、半導(dǎo)體和聚合物）
附屬設(shè)備	?HDO4024（Teledyne LeCroy DSO）、 （HDO4024 尺寸 W400 × L132 × H292 [mm]） ?特殊程序 ?筆記本電腦等。