光學(xué)元件掃頻測試系統(tǒng)的檢測數(shù)據(jù)分析

發(fā)布日期：2022-08-22      瀏覽次數(shù)：922

光學(xué)元件掃頻測試系統(tǒng)的檢測數(shù)據(jù)分析

掃頻測試系統(tǒng)

結(jié)合可調(diào)諧激光器（TSL系列）、功率計(jì)（MPM）、偏振控制單元（PCU-110）和定制軟件，對(duì)研發(fā)和生產(chǎn)線上的IL/WDL/PDL進(jìn)行高效測量和評(píng)估。您可以做到。

多站測量

通過將掃描測試系統(tǒng)與多分支單元相結(jié)合，可以進(jìn)一步提高檢查和評(píng)估的效率。

測量 超過 80 dB 的高動(dòng)態(tài)范圍測量

Thorlabs 的TSL 系列可調(diào)諧激光器采用創(chuàng)新的腔體設(shè)計(jì)，可降低光學(xué) ASE 噪聲，實(shí)現(xiàn)非常高的信噪比和高光輸出功率。因此，該系統(tǒng)可以在多個(gè)端口同時(shí)評(píng)估具有高動(dòng)態(tài)范圍特性的光學(xué)元件的特性。
下圖分別顯示了 CWDM 濾波器和陷波濾波器（例如 FBG）的測量數(shù)據(jù)。









高波長精度 +/- 3 pm

由于TSL 系列標(biāo)配波長監(jiān)視器，因此可以高精度測量光學(xué)元件。
下圖顯示了乙炔（12C2H2）氣體在測量波長處的吸收線，可以看出以高的測量精度進(jìn)行了測量。





小于 0.1 pm 的高波長分辨率

該系統(tǒng)可以測量具有高波長分辨率的 WDL 和 PDL，不僅適用于 WDM 光學(xué)元件，還適用于窄線寬濾波器。
圖中顯示了超高 Q 電容器件的測量，可以看出可以在 0.1 pm 或更小的分辨率下進(jìn)行測量。






軟件（LabVIEW。/ Visual Studio / Phython）

在多站測量系統(tǒng)中，可調(diào)諧激光器、偏振控制器和多分支單元充當(dāng)服務(wù)器，光和觸發(fā)信號(hào)從中分離并發(fā)送到每個(gè)站。每個(gè)站僅由一個(gè)功率計(jì)和一臺(tái) PC 組成。

在測量過程中，服務(wù)器的可調(diào)諧激光連續(xù)掃過規(guī)定范圍。因此，每個(gè)站都可以在任何時(shí)間獨(dú)立于其他站進(jìn)行測量。

這樣，該系統(tǒng)可以在保持高精度特性的同時(shí)，進(jìn)一步提高檢測和評(píng)估的效率。